HXNi/xx元素單鍍層膜厚標準片(鍍層標準片)是用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測量金屬鍍層厚度時進行標準化校準及建立測試檔案的重要工具。

產(chǎn)品型號：HXNi/xx
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-11-14
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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標題：元素單鍍層膜厚標準片

產(chǎn)品概述

　　HXNi/xx元素單鍍層膜厚標準片，又稱測厚儀標準片或膜厚儀校準片，是一種具有已知鍍層厚度的標準樣品。

　　用途：主要用于X射線測厚儀的校準和測試標準化，以確保測量結(jié)果的準確性和可靠性。它適用于PCB(印刷電路板)、五金電鍍、半導(dǎo)體等行業(yè)中對鍍層厚度的精確測量。

　　適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi(包括：牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。

　　美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務(wù)，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院)標準或ANSI(American National Standards Institute美國國家標準學(xué)會)標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。

　　Ni/xx元素單鍍層膜厚標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。

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HXNi/xx元素單鍍層膜厚標準片(鍍層標準片)是用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測量金屬鍍層厚度時進行標準化校準及建立測試檔案的重要工具。

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