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X射線膜厚測(cè)試儀
X射線膜厚測(cè)試儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。
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2025-11-14 - 02
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Co INF美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片CO無限厚 HXCo/xx美國(guó)Calmetrics元素Co/xx標(biāo)準(zhǔn)片Co 2um HXSn/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片底材銅上鍍錫Sn/Cu HXNi/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片銅底材上鍍鎳Ni/Cu HXCr/Fe美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片鐵底材上鍍鉻Cr/Fe服務(wù)與支持
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